1. High quality test pattern generation and boolean satisfiability
پدیدآورنده: / Stephan EggersgleuC, Rolf Drechsler
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits--Testing,Algebra, Boolean
رده :
TK7874
.
E34
2012

